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X荧光光谱仪的常见分析对象

来源:杰博科技 次数: 发布时间:2018/7/2 11:33:47
X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成。X射线管产生入射X射线,激发被测样品,产生X荧光,探测器对X荧光进行检测,其分析速度快,精密度高。关于X荧光光谱仪的常见分析对象你了解吗?
X荧光光谱仪的常见分析对象
 
X荧光光谱分析分析范围很广,可从Be-U,而且对分析试样的物理状态不作要求,像固体、粉末、晶体、非晶体都可作为试验对象。也不受元素的化学状态的影响。重要的是它属于物理过程中的非破损性分析,是一种试样不发生化学变化的无损分析方法。它还可以对均匀试样进行表面的分析。
 
X荧光光谱分析被应用于很多领域,比如地质、冶金、矿山、电子机械、石油、化工、航空、航天材料、农业、生态环境、建筑材料、商检等领域的材料化学成分分析,它的直接分析对象有以下几种:
1、固体
A.块状样品(规则不规则),比如:钢铁,有色行业纯金属或多元合金、金饰品等;
B.线状样品,包括线材,可以直接测量;
C.钻削,不规则样品可以直接测;

2、粉末
矿物陶瓷水泥(生料、熟料、原材料成品等;泥土、粉末、冶金、铁合金或少量稀松粉末,可以直接测量,亦可以压片测量或制成玻璃熔珠。

3、稀土